产品介绍

本平台专为半导体类技能竞赛、教学比武与能力考核设计，集器件测试、工艺仿真、参数标定、竞赛评分于一体，满足赛事公平性、规范性与专业性要求。平台高度还原产业真实测试流程，覆盖半导体物理特性分析、典型器件性能检测、工艺步骤实操考核等核心赛项，支持实时数据采集、曲线自动生成、成绩量化评分，确保竞赛过程可追溯、结果可比对。系统采用竞赛专用模块化架构，操作流畅、抗干扰性强，既可用于校级、省级技能大赛，也适用于院校集训、选拔与考核，全面考查选手器件原理应用、测试方案设计、工艺规范执行与故障排查能力，以赛促教、以赛促练，提升学生芯片测试与工艺实操核心竞争力，并且支持集创赛。产品可定制。

技术参数

1. 竞赛支持：支持二极管、三极管、MOSFET、场效应管等典型器件竞赛测试

2. 电气指标：电压 0–1500V（精度 ±0.01V），电流 0–500mA（精度 ±0.1mA）

3. 测试项目：伏安特性、击穿电压、开启电压、输出 / 转移特性全自动测量

4. 工艺模块：封装检测、引脚通断、耐压 / 老化模拟、工艺步骤合规性判定

5. 竞赛功能：实时评分、数据锁定、计时计时、报表导出、防作弊机制

6. 接口与系统：USB / 以太网双接口，Windows 适配，含竞赛题库与指导方案

7. 工作条件：AC220V，功率≤150W，尺寸 550×450×200mm，稳定可靠

硬件技术参数

1. 采用一体化集成设计，电脑主机、显示器、测试仪器、实验教学板卡及教学软件集成于一体，非外挂式分体设备组合；每种仪器配置专门的手动测试接口和与测试接口板连接的自动化测试接口，可完成集成电路芯片的手动测试和自动化测试。

2. 设备主控平台处理器不低于四核心，主频不低于2.5GHz，内存不低于8GB DDR4，硬盘不低于256GB；

3. 内置不低于13英寸触控显示屏，分辨率不低于1920x1080，支持触控交互操作；

4.设备须内置集成电路实验教学所需的测试仪器模块，仪器种类不少于14种，包含但不限于以下仪器功能模块：

4.1 数字示波器模块：不少于2个通道，模拟通道带宽最高200MHz，最高实时采样率1GS/s，分辨率8bit；

4.2 信号发生器模块：不少于2个通道，最高输出频率60MHz，250MS/s采样率，14bit分辨率；

4.3 可编程电源模块：不少于三组独立可编程直流电源输出，输出电压范围须涵盖0~+30V、-30~0V和0~+30V三组；电压输出分辨率不劣于1mV；电压输出精度不劣于0.05%；单组输出电流不低于6A，电流分辨率不劣于0.1mA，电流精度不劣于0.1%；

4.4 数字万用表模块：分辨率不低于4位半；支持电压、电流、电阻、电容、二极管及通断测试；最大输入电压：交流不低于600V，直流不低于800V；最大输入电流：交流/直流均不低于10A；输入阻抗不低于10MΩ；